问题描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i,
j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路：每行一样出现次数最多的就是好的芯片
#include<bits/stdc++.h> using namespace std; int main() { int n,a[50][50]; cin>>n; for(int i=1;i<=n;i++) { for(int j=1;j<=n;j++)cin>>a[i][j]; } string s[50]; for(int i=1;i<=n;i++) { for(int j=1;j<=n;j++) { s[i]+=a[i][j]+'0'; } } string ans; for(int i=1;i<=n;i++) { string ss=s[i]; int cnt=0; for(int j=1;j<=n;j++) { if(s[j]==ss)cnt++; } if(cnt>n/2)ans=ss; } for(int i=1;i<=n;i++) { if(s[i]==ans)cout<<i<<" "; } return 0; } 本文来互联网采集，已注明来源，如未注明来源可能来源未知，如有侵权请联系站长删除处理。
